单片机创新实验室,创新单片机实训箱-上海硕博公司 -

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2024年4月26日

单片机创新实验室,创新单片机实训箱

SB-EMCU模块化多CPU创新单片机实训实验箱

一、系统简介

单片机创新实验室,创新单片机实训箱,EMCU模块化实验箱（简称）为满足各大专院校进行"单片机EDA"等课程的开放式实验教学而精心设计的,其功能强大,为8/16/32位单片机、微机原理与接口技术和EDA教学分别提供了模块化实验平台。

EMCU实验箱采用双层设计,底层为电源底板层,上层为模块层；为开放式结构；模块层设置有标配九块（140x10）大小相等的模块,其余模块供选配,用旋钮式螺丝把模块安装在实验箱底板上,拆换方便,每个模块通过旋钮式螺丝把模块电源接口连接在电源底板层上。底板主要为模块提供固定安装和稳压电源,模块按功能分为分为CPU模块和实验模块两大类。

本实验箱优点：一改传统实验箱一体化设计弊端,采用完全独立模块化设计,实验组织更加灵活,通用性更强；电源底板与模块双层设计,CPU模块引出众多接口,扩展性更强。

二、主要特点

1、系统采用模块化、积木式设计,清晰明了,提高了实验灵活性和适应性

·布局合理,清晰明了：实验模块上的接口电路均采用模块化设计,开放式结构,各模块既可独立实验,也可灵活组合。

·无限升级,永不淘汰的实验平台：从小到大的模块化设计,无限扩展的组合设计空间为用户提供永不淘汰的实验平台。我们提供几十种模块可供用户自由组合。并在以后不断推出新的实验模块,供用户无限升级,永远引领科技潮流。

·兼容性强,减少设备投资："CPU模块+实验模块"分体式结构设计,只需构买一种实验箱,通过更换CPU模块便可组成多种实验仪。CPU模块现主要提供：51系列、8088微机接口、EDA开发板、AVR、PIC、MSP430、ARM等控制板作为学生开拓视野选配用,以后还将不断推出新的控制板。一机多用,可减少院校设备投资津费,优惠实用。

·使用方便,易于维护：模块化设计,通过更换实验模块可避免由于电路的部分损坏而使整个实验系统处于瘫痪状态,实验模块上的所有芯片都是安放在IC插座上的,更换方便；采用的自锁式连接导线,接触十分可靠。

2、完善的基本单片机技术硬件教学平台

·51单片机部分：系统自带51CPU和监控,构成一个独立的仿真开发系统,可以脱机运行实验程序,也可联PC运行。

·AVR、PIC、MSP430、ARM等单片机提供在线仿真或下载式调试器。

3、完整的8、16位单片机实验软件调试平台

51有一个自开发的集成调试环境或其它相应的调试软件,也可直接使用KEIL软件编译调试,软件应用通俗易懂；全新的WINDOWS界面版本,支持WIN2000/XP等操作系统；

符合编程语言语法的彩色文本显示,用户可根据个人爱好修改特定和着色功能；

先进的错误定位,可直接进入错误位置,无需查找错误信息；

完美的编辑编译集成环境,可在同一个编辑窗口中编辑编译程序,无需做其它任何设置；

完美的集成调试环境,可在Windows 2000及Windows XP环境下,在调试窗口中直接运行和源程序调试,无需任何其它烦琐的操作。

4、8088十六位微机原理与接口技术部分：本模块有CPU（8088）,系统控制芯片（1032）,64K监控程序存储器,64K用户程序和数据存储器（61256x2）,64K实验程序存储器,DMA控制器,串行通信和定时器接口芯片组成。为实验模块提供D0-D7八位数据总线、A0-A15十六位地址总线接口,地址译码,读写控制信号,中断和DMA控制信号等。

5、对实验设计具有良好的开放性,增强学生综合设计能力

·实验系统所具有的硬软件结构对用户的实验设计具有良好的开放特性,系统总线及各种外围接口器件都可由用户来操作连接,从而极大地提高了学生的实际和操作能力,避免了单纯验证式实验方式的弊病。

6、高性能稳压电源

系统采用了具有抗短路、过流的高性能稳压电源,从而可以避免学生实验过程中因接线失误而导致的芯片或整机损坏情况。

三、硬件组成

（1）通用CPU板：

·单片机通用CPU板资源有：CPU插卡座,isp1032E,W27C12,61256两片,单片机AT89S5X下载接口和串行接口等,51系列CPU卡提供单片机P0,P1,P2,P3口线,八位数据总线,十六位地址总线,读写控制总线,地址译码和电源等。

1	51K_CPU(AT89S52标配)	5	Pic16F877核心板（选配）
2	Keil_CPU卡（SST89E58选配）	6	MSP430F168核心板（选配）
3	C8051F020_CPU卡（选配）	7	ARM、Cortex-M3核心板（选配）
4	Atmega16/32核心板（选配）	8	86CPU卡（标配）

1	138译码电路	6	非门和与非门电路
2	393八分频电路	7	单脉冲,时钟,蜂鸣器
3	可调模拟信号0~5v	8	双运放电路LM358
4	数字温度18B20	9	脉宽与射极输出电路
5	模拟温度LM35

1	8253定时计数器接口	4	485接口
2	8250异步通信接口	5	RS232接口
3	8251通信接口

1	倾斜检测传感器模块	2	凝露检测传感器模块
3	触摸检测传感器模块	4	火焰检测传感器模块
5	紫外检测传感器模块	6	气体检测传感器模块
7	振动检测传感器模块	8	超声波测距模块
9	数字收音机模块	10	无线数据通讯模块
11	人体红外感应模块	12	尘埃灰尘粉尘检测传感器模块
13	光电传感器模块	14	光敏传感器模块

1	清零程序	6	查找相同数据个数
2	拆字程序	7	无符号双字节快速乘法子程序
3	拼字程序	8	多分支程序
4	数据区传送子程序	9	脉冲计数实验
5	数据排序实验	10	电脑时钟实验

1	P1口亮灯实验	14	步进电机控制
2	P1口转弯灯实验	15	8253方波实验
3	P3.3口输入,P1口输出实验	16	小直流电机调速实验（霍尔传感器）
4	工业顺序控制实验	17	16*16 LED点阵显示实验
5	8255 A、B、C口输出方波实验	18	128*64（1602）LCD液晶显示实验
6	8255 PA口控制PB口	19	8250可编程异步通讯接口实验（自发自收）
7	8255控制交通灯	20	8251可编程通讯接口实验（与PC机）
8	简单I/O扩展实验	21	单片机RS232/485串行发送实验（双机通讯）
9	A/D0809转换实验	22	单片机RS232/485串行接收实验（双机通讯）
10	D/A0832转换实验	23	DS18B20单总线温度测量实验
11	8279键盘显示实验	24	PWM实验
12	I2C储存卡读写实验	25	射极跟随器
13	继电器控制实验；

26	通用打印机实验；	40	串行存储芯片93C46读写实验
27	微型打印机打印字符、曲线、汉字实验；	41	LM331电压/频率转换实验
28	数码管倒计时的道路模拟交通灯；	42	74LS164串入并出实验
29	语音芯片ISD1410控制实验（录音）；	43	74LS164串入并出实验
30	语音芯片ISD1410控制实验（放音）；	44	74LS138译码器实验
31	CAN总线通讯接口实验；	45	8155输入,输出,SRAM实验
32	以太网TCP/IP协议接口实验；	46	砝码称重测量
33	USB2.0通讯接口实验。	47	TFT触摸彩屏显示文字和彩条实验
34	红外线遥控收发实验	48	TFT触摸彩屏显示图片实验
35	TLC549串行A/D转换实验	49	TFT触摸彩屏触摸实验
36	TLC5615? 10位D/A串行转换实验	50	SD卡读写实验
37	PCF8563? I?C日历时钟实验	51	32M flash读写实验
38	看门狗实验	52	MC14433数字电压表实验
39	AT24C02? I2C总线存储器读写实验

1	模拟比较器	13	串口收发实验-
2	模数转换实验	14	中断实验-
3	8255控制实验	15	定时器计数器实验
4	定时器/计数器8253	16	定时器比较匹配实验
5	广告灯显示	17	PWM脉宽调制实验
6	数模DAC0832转换	18	输入捕获ICP实验(红外解码)
7	键盘显示实验	19	I2C两总线接口实验
8	LED点阵显示实验	20	继电器
9	LCD12864液晶显示	21	单总线实验(数字温度测量)
10	端口输入输出控制	22	串行模数转换(TLC549)
11	步进电机	23	串行模数转换(TLC5615)
12	直流电机控制

1	跑马灯实验	12	DAC数模转换实验
2	PC口控制PD口	13	LCD1602显示实验
3	看门狗实验	14	数字温度计显示实验
4	定时器0编程实验	15	I2C总线实验
5	定时器1编程实验	16	LCD12864显示实验
6	定时器2编程实验	17	PIC内部EEPROM读写实验
7	计数器0编程实验-	18	PIC内部FLASH读写实验
8	计数器1编程实验	19	PWM输出实验
9	内核模数转换	20	捕捉比较实验
10	中断实验	21	PSP并行输入输出实验
11	SPI三线串行通信实验	22	比较匹配输出实验

1	跑马灯显示实验	11	定时器A比较功能实验
2	内核AD采样实验	12	定时器A定时实验
3	D/A转换实验	13	PWM实验
4	FLASH读写实验	14	LCD1602液晶显示实验
5	内部温度传感器实验	15	LCD12864液晶显示实验
6	看门狗实验	16	数字温度传感器测量显示实验
7	看门狗定时器实验	17	内部比较器实验
8	DMA实验	18	LED点阵显示实验
9	时基模块应用	19	端口中断实验
10	串口收发实验

1	二进制多位加法实验	6	数码显示实验
2	二进制转换为BCD码实验	7	求最大数和最小数
3	BCD码转换为二进制码	8	数据块传送实验
4	十进制数的BCD码相减运算	9	分支程序设计
5	内存清零实验

1	A/D转换实验	13	存贮器读写实验
2	D/A转换实验（一）	14	电子琴实验
3	D/A转换实验（二）	15	简单I/O口扩展实验
4	8255A并行口实验（一）	16	8251可编程通讯接口和PC机通讯
5	8255A并行口实验（二）	17	16*16 LED点阵显示实验
6	定时器/计数器实验	18	128*64 LCD液晶显示实验
7	8259单级中断控制器实验	19	8237 DMA传送实验
8	串行口发送实验（双机通讯）	20	8250可编程异步通讯接口实验
9	串行口接收实验（双机通讯）	21	8279键盘显示实验
10	小直流电机调速实验	22	温度测量实验
11	步进电机控制	23	压力测量实验
12	继电器控制

24	电子时钟实验	25	四路抢答器设计
26	语音芯片ISD1410录放音实验

1	汽车倾斜检测报警装置设计	2	汽车自动雨刮器系统设计
3	汽车无钥匙启动系统设计	4	火灾感应报警系统设计
5	紫外线强度测试仪	6	空气质量测试仪
7	汽车防碰撞报警系统设计	8	汽车超速报警装置设计
9	数字收音机设计	10	无线数据通讯模块设计
11	人体红外防盗报警装置设计	12	空气质量测试仪